概述P+F倍(bei)加福(fu)反(fan)射(she)傳(chuan)感(gan)器特點(dian)P+F倍(bei)加福(fu)反(fan)射(she)傳(chuan)感(gan)器具(ju)有前(qian)景(jing)抑制功(gong)能的傳(chuan)感(gan)器也(ye)是(shi)反(fan)射(she)板(ban)光電(dian)模式，在(zai)壹(yi)定的測(ce)量(liang)距離(li)內，它(ta)不會(hui)錯誤(wu)的把有光澤(ze)的物(wu)體(ti)識別為反(fan)射(she)板(ban)。 該(gai)模式是(shi)檢(jian)測(ce)薄膜(mo)包裹托盤(pan)的(de)完(wan)mei搭配(pei)，因(yin)為普(pu)通(tong)反(fan)射(she)板(ban)模式會(hui)混淆(xiao)反(fan)光表(biao)面和反(fan)射(she)板(ban)，造成(cheng)沒有輸(shu)出(chu)狀(zhuang)態的變化。在(zai)傳(chuan)感(gan)器外殼(ke)內，發射(she)器和(he)接(jie)收(shou)器前(qian)面(mian)的(de)光圈(quan)孔會(hui)產生(sheng)壹(yi)個盲(mang)區，屏(ping)蔽(bi)了反(fan)射(she)板(ban)和(he)極性偏轉(zhuan)的(de)物(wu)質，使(shi)之(zhi)不會(hui)產生(sheng)錯誤(wu)的信號。

P+F倍(bei)加福(fu)反(fan)射(she)傳(chuan)感(gan)器的(de)作用(yong)主(zhu)要(yao)體(ti)現(xian)在以下幾(ji)個方面(mian)：

物(wu)體(ti)檢(jian)測(ce)：P+F漫反(fan)射(she)光電(dian)傳(chuan)感(gan)器通(tong)過(guo)發射(she)器發(fa)出(chu)的光照(zhao)射到檢(jian)測(ce)物(wu)體(ti)上(shang)，然(ran)後(hou)接(jie)收(shou)器接(jie)收(shou)從(cong)物(wu)體(ti)反(fan)射(she)回(hui)來的光，從(cong)而(er)實(shi)現(xian)物(wu)體(ti)的檢(jian)測(ce)。

顏(yan)色判(pan)別：通(tong)過(guo)檢(jian)測(ce)物(wu)體(ti)形成(cheng)的光的(de)反(fan)射(she)率(lv)和(he)吸(xi)收(shou)率根(gen)據(ju)被投光的(de)光線波長和(he)檢(jian)測(ce)物(wu)體(ti)的顏(yan)色組合(he)而有所(suo)差(cha)異。利(li)用(yong)這(zhe)種(zhong)性質，可(ke)對(dui)檢(jian)測(ce)物(wu)體(ti)的顏(yan)色進行(xing)檢(jian)測(ce)。

位置(zhi)檢(jian)測(ce)：P+F漫反(fan)射(she)光電(dian)傳(chuan)感(gan)器可(ke)以進行(xing)微(wei)小物(wu)體(ti)的檢(jian)測(ce)和(he)高(gao)精度(du)的(de)位置(zhi)檢(jian)測(ce)。

非(fei)接(jie)觸式檢(jian)測(ce)：P+F漫反(fan)射(she)光電(dian)傳(chuan)感(gan)器可(ke)以無須(xu)機械(xie)性地接(jie)觸檢(jian)測(ce)物(wu)體(ti)實(shi)現(xian)檢(jian)測(ce)，因(yin)此(ci)不會(hui)對(dui)檢(jian)測(ce)物(wu)體(ti)和傳(chuan)感(gan)器造成(cheng)損傷。因(yin)此(ci)，傳(chuan)感(gan)器能長期使(shi)用(yong)。

P+F倍(bei)加福(fu)反(fan)射(she)傳(chuan)感(gan)器由(you)傳(chuan)感(gan)器探(tan)頭(tou)和回(hui)歸(gui)反(fan)射(she)板(ban)兩部分(fen)組(zu)成(cheng)。傳(chuan)感(gan)器探(tan)頭(tou)內有發(fa)射(she)器和(he)接收(shou)器，發(fa)射(she)器(qi)發(fa)出(chu)的光線射向(xiang)目標(biao)物(wu)體(ti)後(hou)，經(jing)目(mu)標(biao)物(wu)體(ti)反(fan)射(she)，再(zai)回到接(jie)收(shou)器。當(dang)光線被反(fan)射(she)回(hui)來且(qie)強度達到壹(yi)定閾值時(shi)，探(tan)測(ce)器(qi)就(jiu)會(hui)產生(sheng)相(xiang)應(ying)的電信號輸(shu)出(chu)，以此來檢(jian)測(ce)物(wu)體(ti)的存(cun)在、位置(zhi)、運動(dong)狀(zhuang)態等信息(xi)。

P+F倍(bei)加福(fu)反(fan)射(she)傳(chuan)感(gan)器應(ying)用(yong)場景(jing)：

物(wu)流(liu)行業：在(zai)物(wu)流(liu)輸送線上(shang)，可(ke)用(yong)於(yu)檢(jian)測(ce)包裹、托盤(pan)、貨物(wu)等(deng)的(de)位置(zhi)和通(tong)過(guo)情況(kuang)，實(shi)現(xian)自動(dong)化的(de)分揀、搬運和計數。例(li)如，當(dang)包裹經(jing)過(guo)探(tan)測(ce)器(qi)時(shi)，探(tan)測(ce)器(qi)會(hui)發(fa)出(chu)信號，觸發(fa)相(xiang)應(ying)的機械(xie)裝(zhuang)置(zhi)進行分(fen)揀操作。

自(zi)動(dong)化生(sheng)產：在(zai)自(zi)動(dong)化生(sheng)產線上(shang)，可(ke)用(yong)於(yu)檢(jian)測(ce)工件的到位情況(kuang)、位置(zhi)偏差(cha)等(deng)，確保生產過(guo)程(cheng)的順(shun)利(li)進(jin)行(xing)。例(li)如，在汽(qi)車(che)裝(zhuang)配(pei)生產線上(shang)，回(hui)歸(gui)反(fan)射(she)光電(dian)探(tan)測(ce)器(qi)可(ke)以檢(jian)測(ce)汽(qi)車(che)零(ling)部件的安裝是(shi)否正(zheng)確，及時(shi)發(fa)現(xian)並(bing)糾(jiu)正(zheng)錯誤(wu)。

包裝行(xing)業：可(ke)用(yong)於(yu)檢(jian)測(ce)包裝材(cai)料的(de)位置(zhi)和運動(dong)狀(zhuang)態，如紙張(zhang)、塑(su)料(liao)薄膜(mo)等(deng)的(de)輸送和切(qie)斷過(guo)程(cheng)。在食(shi)品(pin)包裝行(xing)業，還(hai)可(ke)以檢(jian)測(ce)食(shi)品(pin)的包裝是(shi)否完(wan)整，有無(wu)漏(lou)裝(zhuang)、錯裝(zhuang)等問題。

倉(cang)儲管(guan)理：在(zai)倉(cang)庫中，可(ke)用(yong)於(yu)檢(jian)測(ce)貨架(jia)上(shang)貨物(wu)的(de)存(cun)儲情況(kuang)，以及叉(cha)車(che)、堆(dui)垛機等設備(bei)的運(yun)行位置(zhi)，提高(gao)倉(cang)儲管(guan)理的(de)效率(lv)和(he)安全性

概述P+F倍(bei)加福(fu)反(fan)射(she)傳(chuan)感(gan)器特點(dian)：

檢(jian)測(ce)距離(li)較遠：與漫反(fan)射(she)型(xing)光電(dian)傳(chuan)感(gan)器相(xiang)比，回歸(gui)反(fan)射(she)型(xing)光電(dian)探(tan)測(ce)器(qi)通(tong)常具(ju)有更(geng)大(da)的感(gan)應距離(li)。這(zhe)是(shi)因(yin)為反(fan)射(she)板(ban)可(ke)以將光線有效地(di)反(fan)射(she)回(hui)接(jie)收(shou)器，增強了(le)信號強(qiang)度(du)，使(shi)得(de)在(zai)較(jiao)遠的距離(li)處(chu)也(ye)能準確檢(jian)測(ce)到物(wu)體(ti)。

安裝(zhuang)方(fang)便：只(zhi)需(xu)將反(fan)射(she)板(ban)安(an)裝(zhuang)在探(tan)測(ce)器(qi)的(de)對(dui)面合(he)適位置(zhi)，然(ran)後(hou)調(tiao)整(zheng)好(hao)角(jiao)度，使(shi)光線能夠順(shun)利(li)反(fan)射(she)回(hui)來即可(ke)。相(xiang)比於(yu)對(dui)射式光電(dian)傳(chuan)感(gan)器需(xu)要(yao)在(zai)物(wu)體(ti)兩側(ce)分(fen)別安裝(zhuang)發射(she)器(qi)和接收(shou)器，回(hui)歸(gui)反(fan)射(she)式的(de)安裝(zhuang)更(geng)加(jia)簡便，節(jie)省(sheng)了安(an)裝空間(jian)和(he)時(shi)間(jian)。

可(ke)檢(jian)測(ce)多種(zhong)物(wu)體(ti)：對(dui)於(yu)不同形狀(zhuang)、顏(yan)色、材(cai)質的(de)物(wu)體(ti)，只要(yao)能夠反(fan)射(she)光線，回歸(gui)反(fan)射(she)光電(dian)探(tan)測(ce)器(qi)都可(ke)以進行(xing)檢(jian)測(ce)。不過(guo)，對(dui)於(yu)壹(yi)些表(biao)面反(fan)光性較差(cha)或(huo)吸(xi)收(shou)光線較強(qiang)的物(wu)體(ti)，可(ke)能需(xu)要(yao)選(xuan)擇(ze)合(he)適的(de)反(fan)射(she)板(ban)或(huo)調(tiao)整(zheng)探(tan)測(ce)器(qi)的(de)參(can)數(shu)來提高(gao)檢(jian)測(ce)效果。

抗幹擾能力強：采(cai)用(yong)調(tiao)制光技(ji)術，能夠有效減少環境(jing)光的(de)幹擾。同時(shi)，壹(yi)些型(xing)號的(de)探(tan)測(ce)器(qi)還(hai)具(ju)有偏(pian)振(zhen)濾(lv)波功(gong)能，可(ke)以消除高(gao)反(fan)光目(mu)標經過(guo)傳(chuan)感(gan)器前(qian)方(fang)時(shi)可(ke)能產生(sheng)的(de)錯誤(wu)信號，提(ti)高(gao)檢(jian)測(ce)的(de)準確性